Le DOST lance de nouveaux équipements d'analyse à l'échelle nanométrique pour la recherche sur les matériaux et la détection des défauts

Le Département des Sciences et de la Technologie (DOST) a dévoilé de nouveaux équipements capables d'analyser les matériaux et de détecter les défauts à l'échelle nanométrique, dans le but d'aider les entreprises à améliorer la qualité de leurs produits et à stimuler la production d'appareils électroniques.

Appelé Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM), le nouvel équipement acquis par le Laboratoire de test de dispositifs et de matériaux avancés (ADMATEL) à Bicutan, Taguig, sera utilisé conjointement avec des analyseurs à dispersion d'énergie des rayons X (EDX) et à diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) afin de renforcer les capacités de l'établissement en matière de test des matériaux et d'analyse des défaillances.

Le Secrétaire du DOST, Renato U. Solidum Jr., a indiqué que cet équipement renforce les capacités de recherche avancée et de fabrication du pays, car il permet de détecter les matériaux à l'échelle nanométrique.

« Cette technologie permet une caractérisation précise des nanoparticules, des nanotubes et des matériaux avancés, ainsi qu'une analyse détaillée des films minces et des revêtements multicouches essentiels aux technologies modernes », a déclaré M. Solidum dans un communiqué.

Parmi ses utilisateurs potentiels figurent des entreprises de semi-conducteurs, des institutions académiques et des organisations de recherche, ainsi que ceux qui analysent des échantillons biologiques et des nanomatériaux avancés.

« Il permet à nos entreprises locales non seulement de résoudre des problèmes, mais aussi de concevoir des produits meilleurs et plus fiables dès le départ », a déclaré M. Solidum, ajoutant que les industries des semi-conducteurs et de l'électronique demeurent des moteurs clés de la croissance économique dans le paysage technologique en rapide évolution d'aujourd'hui.

Pour Danilo C. Lachica, président de la Semiconductor and Electronics Industries in the Philippines Foundation, Inc. (SEIPI), le FE-SEM permet un examen précis des structures des dispositifs, des interfaces, du comportement des matériaux et des variations liées aux procédés pouvant affecter les performances et la fiabilité.

Il a également souligné son importance dans la détection des défauts, l'analyse des causes profondes, l'amélioration des procédés, la validation et la résolution de problèmes complexes de fiabilité.

ADMATEL a indiqué qu'il continuera à fournir des services de test à des clients locaux et internationaux et encourage les chercheurs, les partenaires industriels et les institutions à collaborer sur la caractérisation des matériaux avancés et l'analyse des semi-conducteurs.

Cette initiative s'inscrit dans le cadre des programmes du DOST qui promeuvent des solutions scientifiques, innovantes et inclusives autour de ses quatre piliers stratégiques — le bien-être humain, la création de richesse, la protection de la richesse et la durabilité — à travers le cadre OneDOST4U. — Edg Adrian A. Eva